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    • 专利摘要:
    本發明可對到達檢查手段的工件，使檢查步驟不中斷地連續進行檢查，以獲得整體作業效率的提升。其解決手段為工件搬運檢查裝置具備有複數工件收納孔(4)的搬運台(2)，沿著搬運台(2)的周緣設置分離供應部(6)、方向判別部(7)、轉向部(8)、檢查部(9)及分離排出部(10)。各工件收納孔(4)，具有：從搬運台(2)的外緣朝向內側與搬運方向正交而延伸的第1孔(4a)，及沿著搬運台(2)的外緣與第1孔(4a)正交而延伸的第2孔(4b)，具有T字型形狀。分離供應部(6)是將工件(W)收納於第1孔(4a)內，使第1孔(4a)內的工件(W)藉著轉向部(8)向外方移動之後，旋轉90°後收納於第2孔(4b)內。檢查部(9)是對收納於第2孔(4b)內的工件(W)中朝著搬運台(2)的外緣方向的面進行特性檢查。
    公开号:TW201308506A
    申请号:TW101114905
    申请日:2012-04-26
    公开日:2013-02-16
    发明作者:Hiroaki Abe
    申请人:Tokyo Weld Co Ltd；
    IPC主号:H01L21-00
    专利说明:
    工件搬運檢查裝置及工件搬運檢查方法
    本發明是有關一邊進行晶片形電子零組件等工件的搬運一邊進行檢查的工件搬運檢查裝置及工件搬運檢查方法，尤其關於可獲得檢查時間縮短的工件搬運檢查裝置及工件搬運檢查方法。
    自以往，作為一邊進行晶片形電子零組件等工件的搬運一邊進行檢查的工件搬運檢查裝置，具備：有複數工件收納孔的搬運體，及對搬運體的工件收納孔內的工件進行特性檢查的檢查手段已為習知。
    工件搬運檢查裝置是藉搬運體搬運工件收納孔內的工件，使工件收納孔內的工件一旦到達檢查手段時，藉此檢查手段對工件進行特性檢查。
    一般工件具有長方形體形狀，在工件收納孔內收納在與工件搬運體的搬運方向正交的方向。工件到達檢查手段時，將工件從工件收納孔朝著其長方向(與搬運方向正交的方向)外方取出，藉檢查手段檢查工件的側面。
    隨後，使工件再次回到工件收納孔內，藉搬運體再次進行搬運。
    但是，在檢查手段中從工件收納孔將工件朝向其長方向外方取出進行檢查，之後使工件再次回到工件收納孔內的場合，在工件的取出作業及送入作業的期間，有使得檢查手段之工件的檢查步驟中斷的必要。為此會使作業效率整體地降低。
    本發明是考慮以上的點所研創而成，提供可對到達檢查手段的工件，使檢查步驟不中斷地連續進行檢查，以獲得整體的作業效率提升的工件搬運檢查裝置及工件搬運檢查方法為目的。
    本發明的工件搬運檢查裝置，其特徵為，具備：具有收納長方形體形狀的工件的複數工件收納孔，藉間歇移動使工件沿著搬運方向搬運的搬運體；設置在搬運體，將工件收納於工件收納孔的分離供應手段；設置在搬運體，進行工件收納孔內的工件之轉向的轉向手段；及設置在搬運體，進行工件收納孔內的工件之特性檢查的檢查手段，各工件收納孔具有分別以不同的姿勢收納工件的第1孔與第2孔，構成T字型，第1孔是從搬運體的外緣向內側朝著與搬運方向成正交延伸，以採取和搬運方向正交的姿勢收納工件，第2孔是沿著搬運體的外緣朝著與搬運方向平行地延伸，以採取和搬運方向平行的姿勢收納工件，分離供應手段是將工件收納於第1孔，轉向手段是使得第1孔內的工件朝向搬運體的外方移動，旋轉90°後收納於第2孔，檢查手段是對收納於第2孔的工件中朝著搬運體的外側方向的面進行特性檢查。
    本發明的工件搬運檢查裝置，其特徵為：轉向手段，具有吸附第1孔內的工件並朝著與搬運體的搬運方向及工件的長方向正交的方向外方移動，使工件旋轉90°並收納於第2孔內的吸附口。
    本發明的工件搬運檢查裝置，其特徵為：轉向手段進一步具有將第1孔內的工件朝著工件的長方向外方拉出的噴氣裝置。
    本發明的工件搬運檢查裝置，其特徵為：在分離供應手段與轉向手段之間，配置有判別第1孔內的工件方向的方向判別手段。
    本發明的工件搬運檢查裝置，其特徵為：轉向手段是根據方向判別手段的判別結果將工件朝著順時鐘方向或逆時鐘方向旋轉90°。
    本發明的工件搬運檢查裝置，其特徵為：搬運體為圓形的搬運台。
    本發明的工件搬運檢查裝置，其特徵為：搬運體為環形搬運帶。
    本發明的工件搬運檢查方法，係使用上述記載的工件搬運檢查裝置，其特徵為，具備：藉分離供應手段並利用工件收納於設置在搬運手段的工件收納孔的分離供應手段與搬運體的間歇移動來搬運工件的搬運步驟；藉轉向手段進行工件轉向的轉向步驟；及藉檢查手段進行工件的特性檢查的檢查步驟，分離供應步驟中分離供應手段是將工件收納於第1孔，轉向步驟中轉向手段是使第1孔內的工件朝搬運體的外方移動，旋轉90°後收納於第2孔，檢查步驟中檢查手段是對收納於第2孔的工件中朝著搬運體的外側方向的面進行特性檢查。
    本發明的工件搬運檢查方法，其特徵為：在轉向步驟中，轉向手段具有吸附第1孔內的工件並朝著與搬運體的搬運方向及工件的長方向正交的方向外方移動，使工件旋轉90°並收納於第2孔內的吸附口。
    本發明的工件搬運檢查方法，其特徵為：在轉向步驟中，轉向手段藉著噴氣裝置將第1孔內的工件朝著工件的長方向外方拉出。
    本發明的工件搬運檢查方法，其特徵為：在分離供應步驟與轉向步驟之間，藉方向判別手段進行判別第1孔內的工件方向的方向判別步驟。
    本發明的工件搬運檢查方法，其特徵為：在轉向步驟中，轉向手段是根據方向判別步驟的判別結果將工件朝著順時鐘方向或逆時鐘方向旋轉90°。
    本發明的工件搬運檢查方法，其特徵為：搬運體為圓形的搬運台。
    本發明的工件搬運檢查方法，其特徵為：搬運體為環形搬運帶。
    如以上說明，根據本發明可對到達檢查手段的工件，使檢查步驟不中斷地連續進行檢查，以獲得整體的作業效率的提升。[發明的實施形態]
    以下，參閱圖示，針對本發明的實施形態加以說明。
    第1圖至第30圖是表示本發明的實施形態的圖。
    如第1圖及第2圖表示，工件搬運檢查裝置X，具備：配置在水平方向的台座1；自由旋轉地配置在台座1上，具有收納長方形體的工件W的工件收納孔4並可間歇旋轉的圓形的搬運台(搬運體)2；沿著搬運台2的外緣所分別配置的分離供應部6、方向判別部7、轉向部8、檢查部9及分類排出部10。
    其中搬運台2是藉著為圖示的驅動機構的作用，在中心軸3的周圍沿著順時鐘的搬運方向(箭頭A的方向)間歇移動即間歇旋轉。在搬運台2的周緣部(外緣)如上述，設有個別收納如第2圖表示的工件W的複數工件收納孔4。
    並在搬運台2的外方，配置有使工件W向著搬運台2朝箭頭B的方向搬運的直線形的線性饋送器5。線性饋送器5的終端部份是位在搬運台2的周緣部，在此如上述設置有將工件W個別收納於工件收納孔4而作為分離供應手段的分離供應部6。
    在以工件W收納於工件收納孔4的狀態使搬運台2間歇旋轉時，將工件W朝著箭頭A的方向搬運。方向判別部7進行工件W方向的判別，轉向部8是根據方向判別部7的判別結果來變換工件W的方向，檢查部9進行工件W的特性檢查，分類排出部10是根據檢查部9的檢查結果將工件W分類成預定的等級並朝著對應各等級的未圖示的排出箱排出。工件收納孔4的上面是從分離供應部6至分類排出部10的搬運台2的旋轉路徑為台罩21所覆蓋。進一步，沿著搬運台2的周緣部的外側，設有包圍搬運台2的形狀的防護壁22。
    在此工件W為長方形體形狀的發光二極體(LED)，在形成長方向的4面中的1面形成有發光面Wa，並且在鄰接發光面Wa的面(電極面)Wb形成有電極Wc1及Wc2(參閱第2圖)。電極Wc1為陽極，電極Wc2為陰極，在電極Wc1與Wc2之間施以直流電壓時讓發光面Wa發光使電極Wc1側形成正極。電極Wc1及Wc2的極性顯示Wx是設置在發光面Wa的角部。第2圖的場合，接近極性顯示Wx的電極Wc2為陰極。如上述，將鄰接發光面的面上形成有電極的LED稱為側顯示LED，有多數的製品販售。
    將工件收納孔4的放大透視圖表示於第3圖、第6圖及第7圖。但是，為簡化而省略台罩21及防護壁22。
    如第3圖、第6圖及第7圖表示，各工件收納孔4是由：具有朝著搬運台2外方的開口部41A的第1孔4a，及具有較第1孔4a位於搬運台2的外方側，在第1孔4a的開口部41A與第1孔4a正交的第2開口部41B的第2孔4b所構成。工件收納孔4的下面是形成台座1的上面。
    如第3圖、第6圖及第7圖表示，各工件收納孔4的第1孔4a的第1開口41A是從搬運台2的外緣2A朝向內側與搬運方向A成正交延伸，採正交於搬運方向A的姿勢收納工件W。且第2孔4b的第2開口41B是沿著搬運台2的外緣2A朝著搬運方向A平行延伸，採平行於搬運方向A的姿勢收納工件W。
    並且工件收納孔4是由第1孔4a與第2孔4b所成，具有平面T字型形狀。
    又，第1孔4a是由壁面4a1、4a2、4a3所形成，工件W是將第2圖的長方向一方的端面Wd或We以從第1開口部41A朝著搬運台2外側的姿勢，收納於第1孔4a內。此時，使發光面Wa位於下面將工件W收納於第1孔4a內而間歇旋轉時產生與台座1的摩擦而有使發光面Wa損傷之虞。又，在第1孔4a內使發光面Wa與壁面4a1或4a2相對而收納工件W時，搬運台2會朝著箭頭A的方向間歇旋轉，在旋轉開始時或停止時發光面Wa會與壁面4a1或4a2衝突，有使得發光面Wa損傷之虞。又，在檢查部9中設置與發光面Wa相對並進行波長與輝度等檢查的感測器的位置是以搬運台2的上側或下側為佳。
    根據該等的理由，藉分離供應部6將工件W收納於工件收納孔4時，在第1孔4a的上面收納工件W使發光面Wa定位。此時，第2圖中形成有電極Wc1及Wc2的面Wb是藉著使端面Wd與We的其中之一朝向搬運台2的外側，形成與壁面4a1或4a2的其中之一相對。
    又，第2孔4b是供收納藉著轉向部8使第1孔4a內的工件W的方向旋轉90°使用。並於第3圖中構成第1孔4a的壁面之中，在位於和搬運台2的外緣2A相反側的壁面4a3的台座1接近處開設有連通溝槽4a4。
    連通溝槽4a4是在搬運台2的台座1側的面，朝向第1圖的中心軸3延伸。並且，在分離供應部6、方向判別部7、轉向部8中，與設置在台座1內的真空源或壓縮空氣源連通，具有使第1孔4a內真空吸引，或對第1孔4a內供應壓縮空氣的作用。
    另外，構成第2孔4b的壁面之中，在接近位於搬運台2內側的壁面4b1的台座1之處開設有連通溝槽4b4。連通溝槽4b4是在轉向部8中與設置在台座1內的真空源連通，具有使第2孔4b內真空吸引的作用。
    接著根據第8圖至第11圖，針對方向判別部7及轉向部8說明。方向判別部7是供判別第1孔4a的工件W的方向。在此第8圖為第1圖中的M線方向箭頭圖。如第8圖表示，在方向判別部7的台罩21和收納於第1孔4a內的工件W上面的相對處，形成有透明材料所成的監視窗71。並在監視窗71的上方，設有可對收納於第1孔4a內之工件W的發光面Wa進行攝影的攝影手段72，攝影手段72在其上方以支柱73支撐著。
    支柱73是在攝影手段72的正上方朝向搬運台2的外側彎曲，支柱73雖未圖示，但是在搬運台2的外側上方再度朝著台座1側彎曲，並連接於台座1。
    又，第1孔4a的連通溝槽4a4是連接於設置在台座1內的未圖示的真空源上，收納於第1孔4a的工件W則是被吸附於壁面4a3。方向判別部7中，以形成有工件W的電極Wc1及Wc2的面Wb和第1孔4a的壁面4a2相對被收納的場合作為透視圖表示(參閱第6圖)。並以形成有工件W的電極Wc1及Wc2的面Wb和第1孔4a的壁面4a1相對被收納的場合作為透視圖表示(參閱第7圖)。但是為簡單起見在該等透視圖中省略台罩21及防護壁22。
    第6圖與第7圖中，顯示設置在發光面Wa的陰極的極性顯示Wx的位置不同。因此，藉第8圖的攝影裝置72進行發光面Wa的攝影，使用影像處理軟體判別第6圖及第7圖表示之極性顯示Wx的位置，可藉此判別第1孔4a內的工件W的方向，即面Wb是否與壁面壁面4a2及壁面4a1的其中一方相對。
    如上述，在方向判別部7中判別第1孔4a內的工件W的方向之後，再次使搬運台2旋轉，將工件W朝向轉向部8搬運。
    接著藉第9(a)(b)圖至第11圖，針對轉向部8加以說明。
    在第9(a)圖表示轉向部8的放大上視圖。但是，第1圖中的箭頭N的位置是標示在第9(a)圖成為左側。並在第9(b)圖表示第1圖中的箭頭P方向透視圖。
    再者，第9(a)圖及第9(b)圖中，雖表示搬運台2為停止，但是未在第1孔4a收納工件W的狀態。轉向部8的台罩21，在與工件收納孔4的上面相對之處，設有透明材料所成的圓形感測器窗82。並在與防護壁22的第1孔4a相對的位置，形成具有與第1孔4a同樣形狀的停止溝槽81a。
    停止溝槽81a具有可以和第1孔4a同樣姿勢收納工件W的形狀。並且，在成為感測器窗82上側之停止溝槽81a的正上方處，被支柱88所支撐設置有光感測器83。
    支柱88是朝向搬運台2的外側延伸，雖然未圖示，但是在搬運台2的外側上方再度朝向台座1側彎曲，連接於台座1。將光感測器83朝著停止溝槽81a使光抵接其上，進行反射光的檢測，藉此檢測工件W是否收納於停止溝槽81a。
    在工件收納孔4及停止溝槽81a下側的台座1內，設有藉未圖示之驅動機構的作用可在與搬運台2同一平面上旋轉的圓柱形的轉軸84。轉軸84的內部是成空洞，轉軸84的上端面84a是與台座1上面成大致同一平面。並且，轉軸84的旋轉方向，上端面84a從上台座1的上方顯示時順時鐘方向及逆時鐘方向的任一方皆可。
    轉軸84的內部，從轉軸84的下方插入有藉著未圖示的驅動機構的作用使得與轉軸84一體自由旋轉並可在轉軸84內朝上下方向自由進退的吸附口85。
    將轉軸84與吸附口85的詳細構造表示於第10圖及第11圖。第10圖是表示轉軸84與吸附口85的各個構造及將吸附口85插入轉軸84時的位置關係，並且，第11圖是表示將吸附口85插入於轉軸84成一體化時的狀態。
    第10圖中，在轉軸84的上端面84a與轉軸84內部的空洞連通形成有可收納工件W的形狀的工件凹陷孔84b。並在轉軸84的周緣部，從上端面84a稍微下方的位置上，形成有圍繞轉軸84的側面而較轉軸84的外圍更朝著內側凹陷的真空吸引溝槽84c。在真空吸引溝槽84c的壁面，形成有從箭頭Q1的方向顯示上端面84a時在對角線上成相對的2組，即4處與轉軸84的內部連通的軸吸引孔84d。並在吸附口85的上端形成具有可插入工件凹陷孔84b的形狀的前端部85a，在前端部85a的上面85as形成有2處的前端吸引孔85b。前端部85a的上面85as的形狀是與第2圖表示的工件W的發光面Wa的形狀大致相同。
    在吸附口85的周緣部與前端部85a的長方向兩端面的同一平面上形成有2個壁面85c。並於接近前端部85a與壁面85c的邊界線的壁面85c，在吸附口85的內部形成有2處從箭頭Q2的方向顯示上面85as時在對角線上成相對之連通於前端吸引孔85b的噴嘴吸引孔85d。
    同樣地，也在未形成有壁面85c的吸附口85的側面，形成有2處從上側顯示上面85as時在對角線上成相對的噴嘴吸引孔85d。吸附口85一旦從轉軸84的下側朝著箭頭R方向插入時，將吸附口85的前端部85a插入轉軸84的工件凹陷孔84b，如第11圖表示成一體化。此時，吸附口85的前端部85a的上面85as與轉軸84的上端面84a是形成相同平面的狀態，吸附口85的噴嘴吸引孔85d是形成與轉軸84的軸吸引孔84d大致相同位置。
    接著，針對以上構成所成的本實施形態的作用，即工件搬運檢查方法說明。
    第1圖中，工件W一旦供應於未圖示的零組件饋送器時，藉其作用將工件W以其長方向為進行方向移載至線性饋送器5。並且，線性饋送器5是藉振動將工件W朝箭頭B的方向搬運，在其途中利用未圖示的排列手段將第2圖表示的工件W的發光面Wa排列於線性饋送器5的上面側。以此樣子作為第1圖中的區域T的放大上面透視圖表示於第4圖。
    另一方面，第2圖中形成有工件W的電極Wc1及Wc2的面Wb是位在第1圖中從箭頭L1方向顯示側或從箭頭L2方向顯示側的其中一方。以此樣子的一例作為第1圖中的箭頭L2放大透視圖表示於第5圖。第5圖中，藉線性饋送器5所搬運的工件W之中，從右側數起第1個、第3個、第4個工件W是使得面Wb朝向從箭頭L2方向的顯示側。
    在以上狀態藉線性饋送器5進行一排連續搬運的工件W到達線性饋送器5的終端部份，在停止的搬運台2的周緣部中與工件收納孔4的第1孔4a的開口部41A相對。並且，根據設置在此相對部份的分離供應部6的作用使工件W逐個分離，進一步在搬運台2停止於分離供應部6的期間，與台座1內設置有第3圖表示之連通溝槽4a4的未圖示的真空源連通，真空吸引第1孔4a的內部，如第6圖或第7圖表示將工件W收納於第1孔4a。此時，如上述與分離供應部6相對的搬運台2的上面為台罩21所覆蓋，因此工件收納孔4的內部被保持著密閉性，可有效進行真空吸引。
    接著使搬運台2朝著第1圖表示的箭頭A的方向間歇旋轉，工件W一旦到達方向判別部7時即停止搬運台2。以上的間歇旋轉是在分離供應部6、方向判別部7、轉向部8、檢查部9、分類排出部10的各部間進行，間歇旋轉中，第3圖表示的連通溝槽4a4未連通於真空源，所以離心力作用於第1孔4a內的工件W。
    但是，由於設有第1圖表示的防護壁22，因此工件W不會從第1孔4a飛出搬運台2的外方。且，台罩21覆蓋著工件收納孔4的上面，可藉著間歇旋轉中產生的振動使工件W不致從第1孔4a飛出至搬運台2的上方。
    如上述工件W一旦到達方向判別部7時，停止搬運台2。並藉著方向判別部7的攝影手段72進行工件W的發光面Wa的攝影，來判別極性顯示Wx的位置，藉此判別第1孔4a內的工件W的方向。隨後再度使搬運台2旋轉，將工件W送至轉向部8。
    接著針對轉向部8的動作，使用第12圖至第22圖加以說明。在此第12(a)(b)圖是表示在第1孔4a內收納工件W的狀態，工件收納孔4停止於第9(a)(b)圖表示的轉向部8的樣子。將第12(a)(b)圖的工件W附近的放大圖表示於第13(a)(b)圖。
    如第13(a)(b)圖表示，第1孔4a內的連通溝槽4a4是經由設置在台座1內的控制配管86a連接於轉換閥87a。並在台座1內設有真空源11及壓縮空氣源12，轉換閥87a具有將控制配管86a連接於真空源11及壓縮空氣源12的功能。第13(b)圖中，轉換閥87a是將控制配管86a連接於真空源11側，因此在第1孔4a內被真空吸引，將工件W吸引至壁面4a3。
    此時，第1孔4a的上面被台罩21所覆蓋，因此第1孔4a的內部被保持著密閉性，可有效進行真空吸引。又，在停止溝槽81a內的壁面81b開口的連通溝槽81c是在轉向部8的防護壁22的下面朝著搬運台2的外側延伸，經由設置在台座1內的控制配管86b連接於轉換閥87b。轉換閥87b也是形成使控制配管86b皆不連接於真空源11或壓縮空氣源12的狀態。以下的說明中，稱此一狀態為中立。並且，吸附口85的前端部85a的長方向是與第1孔4a的長方向一致。 (吸附口85的初期位置)
    並且，前端部85a的長方向的一端面是位在與停止溝槽81a的壁面81b的大致相同平面上。又，轉軸84的上端面84a與吸附口85的前端部85a的上面85as(參閱第10圖)是與台座1上面大致相同的平面。這是構成吸附口85的初期位置。又，第10圖表示的軸吸引孔84d是經由設置在噴嘴吸引孔85d及台座1內的控制配管86c連接於轉換閥87c。轉換閥87c為中立。
    另外，第13(a)圖表示的第2孔4b內的2個連通孔4b4是經由設置在搬運台2下面的未圖示的真空溝槽及設置在台座1內的未圖示的配管，連接於第13(b)圖表示的真空源11。藉此，使第2孔4b內經常地被真空吸引。再者，由於第2孔4b的上面為台罩21所覆蓋，因此第2孔4b的內部被保持著密閉性，可有效進行真空吸引。
    從第13(a)(b)圖的狀態，轉換閥87a被連接於壓縮空氣源12，且轉換閥87b被連接於真空源11。將此樣子表示於第14(a)(b)圖。第14(b)圖中，藉轉換閥87a、87b的作用，供應壓縮空氣到第1孔4a內，在停止溝槽81a內進行真空吸引，因此工件W從第1孔4a向著停止溝槽81a開始朝箭頭H的方向移動。此時，連通溝槽4a4具有作為空氣噴出裝置的功能。進一步將時間經過後的狀態表示於第15(a)(b)圖。
    如第15(a)(b)圖表示，工件W抵接於停止溝槽81a內的壁面81b而停止，被收納於停止溝槽81a內。在此狀態下，工件W的長方向兩端面(第2圖中的Wd及We)是位在與吸附口85的前端部85a的長方向兩端部大致相同平面上。並且，從配置在形成於停止溝槽81a正上方部份的透明感測器窗82上側的光感測器83朝停止溝槽81a內所接觸之光的反射是藉著將工件W收納於停止溝槽81a而變化，所以光感測器83可檢測出此變化，而檢測工件W被收納於停止溝槽81a。另外，轉換閥87a、87b是成中立，轉換閥87c被連接於真空源11。藉以使停止溝槽81a內的工件W真空吸引至吸附口85的前端部85a的上面85as(參閱第10圖)。將此狀態隨後的樣子表示於第16(a)(b)圖。 (吸附口85的退避位置)
    第16(b)圖中，吸附口85在吸附著工件W的狀態，藉著未圖示的驅動機構的作用，在轉軸84內朝著箭頭J的方向下降。即吸附口85是在吸附著工件W的狀態下，朝著與搬運台2的搬運方向及工件W的長方向正交的下方移動。並且，位於工件W上面的發光面Wa一旦到達台座1上面的略下方即停止。且吸附口85是採退避位置。將此狀態表示於第17(a)(b)圖。
    接著，藉未圖示的驅動機構的作用，使吸附口85在吸附著工件W的狀態下，與轉軸84一體地如第18圖表示朝著順時鐘方向(箭頭K的方向)旋轉90°。將旋轉結束的狀態表示於第19(a)(b)圖。在此，形成有工件W的電極Wc1及Wc2的面Wb是如第6圖在收納於第1孔4a的狀態預先與第3圖表示的壁面4a2相對。因此，一旦結束上述順時鐘方向的旋轉時，如第19(a)(b)圖表示，使得面Wb朝向搬運台2的外側。又，第19(a)(b)圖中，第2孔4b是位在台座1內的工件W的正上方位置，其長方向是與工件W的長方向一致。
    如上述工件W的旋轉結束時，如第20(a)(b)圖表示，在吸附口85吸附著工件W的狀態下，藉未圖示的驅動機構的作用，在轉軸84內朝著箭頭Y的方向上升。並且，吸附口85的前端部85a的上面85as(參閱第10圖)與台座1的上面一致時即停止，使轉換閥87c成為中立(吸附口85的初期位置)。
    將此狀態表示於第21(a)(b)圖。第21(a)(b)圖中，工件W被收納於第2孔4b，第21(a)圖表示的第2孔4b內的2個連通溝槽4b4是如上述被連接在第21(b)圖表示的真空源11。藉此，第2孔4b內的工件W被真空吸引，使形成有工件W的電極Wc1及Wc2的面Wb朝向搬運台2的外側方向。又，工件W的發光面Wa是朝向第2孔4b的上側。如上述將收納於第2孔4b內的工件W的樣子作為透視圖表示於第22圖。如第21(a)(b)圖表示工件W被收納於第2孔4b真空吸引，使轉換閥87c形成中立，可藉以使工件W與吸附口85的前端部85a的上面85as(參閱第10圖)容易分開。
    並且，在第21(a)(b)圖的狀態，吸附口85與轉軸84一體朝著逆時鐘方向(與第18圖表示的箭頭K相反的方向)旋轉90°。旋轉結束時，吸附口85回到第13(a)(b)圖表示的初期位置。
    以上的說明中，形成有工件W的電極Wc1及Wc2的面Wb是如第6圖表示與第1孔4a的壁面4a2相對，第18圖中吸附口85及轉軸84雖為順時鐘方向，方向判別部7中，當判別出形成有工件W的電極Wc1及Wc2的面Wb是如第7圖表示與第1孔4a的壁面4a1相對的場合，轉向部8中吸附工件W的吸附口85及轉軸84的旋轉方向是成逆時鐘方向(與第18圖表示的箭頭K相反的方向)。
    之後，搬運台2旋轉，將工件W送到檢查部9。工件W一旦到達該檢查部9時，停止搬運台2，檢查部9是將探針92a及92b抵接於工件W的電極Wc1及Wc2實施光學特性檢查(第23圖至第29圖)。
    再者，檢查部9的光學特性檢查是在電極Wc1及Wc2之間施加直流電壓使發光面Wa發光，藉著與發光面Wa相對所設置的感測器進行光的波長、輝度等光學特性的檢查。
    隨後將探針92a及92b從工件W的電極Wc1及Wc2分開，使搬運台2再度旋轉，將工件W送至分類排出部10。
    到達分類排出部10的工件W根據檢查部9中所實施光學特定檢查的結果分類成事先所決定的預定的等級。並且，朝向對應各等級的未圖示的排出箱，藉未圖示之排出機構的作用排出。
    接著針對轉向部8及檢查部9的動作進一步詳細說明。
    第30圖是轉向部8及檢查部9的相關動作的時間圖。第30圖中的「台旋轉/停止」在H級的期間使搬運台2旋轉，L級的期間使搬運台2停止。並且，「檢查」在H級的期間是如第24圖至第28圖表示，在檢查部9中將探針92a及92b抵接於工件W的電極Wc1及Wc2實施光學特性檢查，將探針92a及92b從工件W的電極Wc1及Wc2分開。又，「工件移動」在H級的期間是如第13圖至第15圖表示，在轉向部8中使工件W從第1孔4a朝著停止溝槽82a移動。
    並且，「工件下降」在H級的期間是如第15圖至第17圖表示，轉向部8中工件W被吸附於吸附口85的狀態，在轉軸84內下降。又，「工件旋轉」在H級的期間是如第17圖至第19圖表示，轉向部8中工件W被吸附於吸附口85的狀態，與轉軸84一體旋轉90°。又，「工件上升」在H級的期間是如第19圖至第21圖表示，轉向部8中工件W被吸附於吸附口85的狀態，在轉軸84內上升。又，「口回轉」在H級的期間是從第21圖如第13圖表示，轉向部8中工件W被收納於第2孔4b而在吸附口85開放工件W的狀態，回到初期位置。
    第30圖中，檢查部9的檢查的所須時間t1是與習知技術的所需時間t1(第46圖)大致相同為130ms。其理由為所有的所需時間皆是探針的進退所需的時間與探針抵接電極的狀態測定所需時間的總合。在此，第30圖中的所需時間t2的「工件移動」、所需時間t3的「工件下降」、所需時間t4的「工件旋轉」、所需時間t5的「工件上升」、所需時間t6的「口回轉」皆是轉向部8的動作。並且，該等的動作是在搬運台2停止的期間，與檢查部9的檢查同時進行。
    並且，作為轉向部8的各動作的所需時間的一例有t2=10ms、t3=20ms、t4=20ms、t5=20ms、t6=20ms，該等的總計為t2+t3+t4+t5+t6=90ms。此一時間較檢查部9的檢查所需時間短。
    如上述，本發明中，轉向部8的動作是與檢查部9的動作同時進行，且轉向部8的動作時間較檢查部9的動作時間短。因此，第30圖中搬運台2之停止時間的T1，即實質的檢查時間是與檢查部9中進行檢查本身之時間的t1相等為130ms。表示後述之比較例的時間圖的第46圖中，搬運台200之停止時間的T2，即實質的檢查時間為相對於檢查部900中進行檢查本身之時間的t1加上從工件收納孔400移動工件W的時間t7及t8的時間，增加約38%。
    相對於此本發明的場合，如上述，搬運台2之停止時間的T1，即實質的檢查時間不致於較檢查部9中進行檢查本身之時間的t1增加。因此可提升整體的作業效率。
    再者，上述實施形態中，雖針對分離供應部6中形成有收納於第1孔4a的工件W的電極Wc1及Wc2的面Wb是和壁面4a1或4a2的其中之一相對已作說明，但是也可以線性饋送器5在搬運工件W時，預先使面Wb的方向一致，並使得在分離供應部6中收納於第1孔4a的工件W的面Wb，例如預先經常與壁面4a2成相對。此時，省略方向判別部7，預先設在轉向部8中吸附口85吸附著工件W的狀態下與轉軸84一起旋轉90°的方向經常為順時鐘方向。
    並且，上述實施的形態中，雖以檢查部9的檢查項目作為光學特性已作說明，但檢查部9的檢查項目不僅限於光學特性。
    此外，上述實施的形態中，雖針對配置1個檢查部9的裝置作為檢查手段已作說明，但檢查部的個數不限於1個。
    並且，上述實施的形態中，針對在檢查部9之後，根據檢查部9中所實施檢查的結果將工件分類成預先所決定的預定的等級，配置朝著對應各等級的未圖示之排出箱而排出之分類排出部10的裝置已作說明。在此，也可以配置排出部而根據檢查的結果將工件W分類成良品與不良品，並排出至此對應的排出箱來取代分類排出部10，並同樣也可配置黏貼部，將工件W分類，在僅排出不良品之後，將良品插入載帶的凹部後黏貼護帶。
    又，上述實施的形態中，針對水平設置有搬運台2的場合已作說明，但也可運用在垂直設置搬運台2的場合，或傾斜設置的場合。
    並且，上述實施的形態中，雖已例示使用旋轉的搬運台2作為搬運體，但也可使用旋繞的環形搬運帶作為搬運體。 比較例
    接著針對本發明的比較例使用第31圖至第46圖加以說明。將比較例的工件搬運檢查裝置的上視圖表示於第31圖。工件搬運檢查裝置X1，具有：被固定的台座1，及配置在台座1上作為搬運手段之搬運體的圓形搬運台200。搬運台200是藉著未圖示的驅動機構的作用，在中心軸3的周圍朝順時鐘方向(箭頭A的方向)間歇移動即間歇旋轉。在搬運台200的周緣部設置有個別收納工件W的複數工件收納孔400。
    在搬運台200的外方，配置有將工件W向著搬運台200並朝箭頭B的方向搬運的直線狀線性饋送器500。線性饋送器500的終端部份是位在搬運台200的周緣部，在此設置有分離供應部600作為工件個別收納於工件收納孔400用的分離供應手段。在工件收納於工件收納孔400的狀態下使搬運台200間歇旋轉時，工件被朝著箭頭A的方向搬運。沿著此搬運路徑，配置有作為檢查手段的檢查部900及作為分類排出手段的分類排出部10。檢查部900是進行工件的特性檢查，而分類排出部10是根據檢查部900的檢查結果將工件分類成預定的等級後朝著對應各等級的未圖示的排出箱排出。
    工件收納孔400的上面，在從分離供應部600到分類排出部10為止的搬運台200的旋轉路徑是被台罩21所覆蓋。另外，沿著搬運台200周緣部的外側，設置有圍繞搬運台200的形狀的防護壁22。
    在此工件W為長方形體形狀的發光二極體(LED)，在形成長方向的4面中的1面形成有發光面Wa，並且在鄰接發光面Wa的面Wb形成有電極Wc1及Wc2(參閱第2圖)。電極Wc1為陽極，電極Wc2為陰極，在電極Wc1與Wc2之間施以直流電壓時讓發光面Wa發光使電極Wc1側形成正極。電極Wc1及Wc2的極性顯示Wx是設置在發光面Wa的角部。第2圖的場合，接近極性顯示Wx的電極Wc2為陰極。如上述，將鄰接發光面的面上形成有電極的LED稱為側視LED，有多數的製品販售。
    將工件收納孔400的放大透視圖表示於第32圖。如第32圖表示，工件收納孔400具有朝向搬運台200的外方的開口部401。工件收納孔400的下面是形成台座1的上面。並藉著壁面402、403、404形成開口部401，藉此將工件W使得以第2圖的長方向一方的端面Wd或We從開口部401朝著搬運台200的外方的姿勢，收納於工件收納孔400內。在此，工件W的發光面Wa為透明樹脂製，因此有搬運時注意使其不致損傷的必要。並且，檢查部的特性檢查是在電極Wc1與Wc2之間施以直流電壓使發光面Wa發光，進行光的波長、輝度等光學特性的檢查。因此，有與發光面Wa相對設置進行該等檢查之感測器的必要。
    在此，圍繞工件收納孔400的各面之中，收納工件W使發光面Wa位於下面時，在間歇旋轉時會產生與台座1的摩擦而有使得發光面Wa損傷之虞。並且，收納工件W使得發光面Wa與壁面402或403相對時，搬運台200由於是朝著箭頭A的方向間歇旋轉，因此在旋轉開始時或停止時發光面Wa會與壁面402或403衝突而有使得發光面Wa損傷之虞。
    另一方面，在檢查部900設置與發光面Wa相對而進行波長或輝度等檢查的感測器的位置是以搬運台200的上側或下側為佳。根據該等的理由，在工件W收納於工件收納孔400內時，可收納使發光面Wa位在工件收納孔400的上面。此時，形成有電極Wc1及Wc2的面Wb是使得端面Wd與We的其中之一從開口部401朝著搬運台200的外方，與壁面402或403的其中之一相對。但是，在此從設置在後述的檢查部900的探針903a及903b和電極Wc1及Wc2的位置關係，如第33圖表示，收納於和箭頭A表示搬運台200的旋轉方向成為後方的壁面403使其壁面Wb成相對。
    並且，第32圖中構成工件收納孔400的壁面之中，在接近位於開口部401相反側之壁面404的台座1之處開設有連通孔405。連通孔405在分離供應部600、檢查部900、分類排出部10等連通於真空源或壓縮空氣源，具有真空吸引工件收納孔400內，並對工件收納孔400內供應壓縮空氣的作用。
    接著，針對以上構成的比較例的作用進行以下的詳述。第31圖中，工件W一旦供應未圖示的零組件饋送器時，藉其作用將工件W以長方向為進行方向移載至線性饋送器500。並且，線性饋送器500是利用振動朝箭頭B的方向搬運工件W，在其途中藉未圖示的排列手段，使第2圖表示的工件W的發光面Wa與線性饋送器500的上面側對齊，並在第2圖中使得形成有工件W的電極Wc1及Wc2的面Wb與從箭頭L的顯示側對齊。以該等樣子作為第31圖中的區域T的放大上面透視圖表示於第34圖，並作為第31圖中的箭頭L放大透視圖表示於第35圖。以第34圖及第35圖的狀態使面的方向對齊並藉線性饋送器500進行一序列連續搬運的工件W在到達線性饋送器500的終端部份，並停止的搬運台200的周緣部與工件收納孔400的開口部401相對。
    另外，藉設置在此相對部份的分離供應部600的作用逐一地將工件W分開，並在搬運台200停止於分離供應部600的期間，連通於第32圖所示未圖示著連通孔405的真空源來真空吸引工件收納孔400的內部。所以工件W是如第34圖表示被收納於工件收納孔400。此時，如上述與分離供應部600相對的搬運台200的上面是為台罩21所覆蓋，所以工件收納孔400的內部維持著密閉性，有效進行真空吸引。
    接著間歇旋轉搬運台200，使工件W到達檢查部900時停止搬運台200。以上的間歇旋轉是在分離供應部6、檢查部900、分類排出部10的各部間進行，間歇旋轉中，第32圖表示的連通孔405未與真空源連通，對工件收納孔400內的工件W有離心力的作用。但是，設有第31圖表示的防護壁22，所以工件W不致從工件收納孔400飛出搬運台200的外方。且台罩21覆蓋著工件收納孔400的上面，所以不會因間歇旋轉中產生振動而使得工件W從工件收納孔400朝著搬運台200的上方飛出。
    檢查部900的構成與動作以放大上視圖使用第36圖至第45說明。在此，為簡單起見，第36圖至第45圖中省略台罩21及防護壁22。第36圖是表示使搬運台200朝箭頭A的方向間歇旋轉並將工件W朝向檢查部900搬運，停止於檢查部900之瞬間前的樣子。檢查部900中，在搬運台200的外方配置有檢查部區塊901，檢查部區塊901內，在搬運台200停止時與工件收納孔400的開口部401相對的位置，形成有具備從工件收納孔400將工件W拉出至搬運台200外收而可收納的形狀的檢查室902。又，檢查部區塊901內，設置有相對於檢查室902的搬運台200旋轉方向(箭頭A)的後側，連接於未圖示的直流電壓源，並藉著未圖示的驅動機構的作用朝著檢查室902自由進退的探針903a及903b。
    檢查室902的壁面之中，在鄰接離開工件收納孔400最遠的壁面904的台座1的位置，設有連通孔905。連通孔905是經由設置在台座1內的控制配管906連接於轉換閥907，轉換閥907將控制配管906連接於真空源908或壓縮空氣源909。
    亦即，轉換閥907在控制配管906與真空源908連接時真空吸引檢查室902內，轉換閥907在控制配管906與壓縮空氣源909連接時則對檢查室902內供應壓縮空氣。並且，轉換閥907也可使控制配管906不連接於真空源908或壓縮空氣源909任何一方的狀態。
    以下的說明中，稱此狀態為中立。中立的場合，檢查室902內不會被真空吸引，並在檢查室902內不進行壓縮空氣的供應。此時，檢查室902是被設置在檢查部區塊901內，所以其內部保持著密閉性，並有效進行真空吸引及壓縮空氣供應。又，設置於工件收納孔400內的壁面404的連通孔405(參閱第32圖)是在工件收納孔400位於檢查部900附近的期間，經由配置在台座1內的控制配管910連接於轉換閥911，且轉換閥911是被連接在真空源908及壓縮空氣源909。亦即，轉換閥911一旦連接控制配管910與真空源908時進行工件收納室400內的真空吸引，轉換閥911連接控制配管910與壓縮空氣源909時則對工件收納室400內供應壓縮空氣。並且，轉換閥911也可使控制配管910不連接於真空源908或壓縮空氣源909任何一方的狀態。
    與轉換閥907的場合相同，以下的說明中，稱此狀態為中立。中立的場合，工件收納孔400內不會被真空吸引，並對工件收納孔400內不進行壓縮空氣的供應。此時，如上述由於台罩21覆蓋工件收納孔400的上面，所以工件收納孔400的內部維持著密閉性，有效進行真空吸引及壓縮空氣供應。
    第36圖中，探針903a及903b停止。且轉換閥907為中立，轉換閥911被連接於真空源908。第37圖是表示搬運台200停止於檢查部900隨後的樣子。收納著工件W的工件收納孔400的開口部401是與檢查室902相對。此時，工件收納孔400內被真空吸引，因此可將工件W保持在工件收納孔400內。
    在此，進行轉換閥907轉換而連接於真空源908，並進行轉換閥911的轉換連接於壓縮空氣源909。第38圖表示實施此一轉換隨後的樣子。藉著轉換，真空吸引檢查室902內，對工件收納孔400內供應壓縮空氣，所以使工件W從工件收納孔404向著檢查室902開始朝箭頭C的方向移動。
    由此一狀態更經過一時間時，如第39圖表示從工件收納孔404取出工件W抵接檢查室902的壁面904而停止。工件W停止時，將轉換閥911轉換成中立。
    接著，如第40圖表示，探針903a及903b是從初期位置朝著檢查室902開始進出於箭頭D的方向。
    並且，從此一狀態更經過一時間時，如第41圖表示，探針903a及903b抵接於第2圖表示的工件W的電極Wc1及Wc2。在此，探針903a及903b進出於第40圖表示的箭頭D的方向，確實抵接於工件W的電極Wc1及Wc2。因此，在將工件W收納於工件收納孔400時，如上述設有電極Wc1及Wc2的面Wb(參閱第2圖)是如第33圖表示，收納於和箭頭A表示搬運台200的旋轉方向成為後方的壁面403成相對。
    探針903a及903b抵接於工件W的電極Wc1及Wc2時，對工件W施加直流電壓，使第2圖表示的發光面Wa發光。如上述發光面Wa被收納朝向工件收納孔400的上面，在工件W被收容於檢查室902內的狀態與檢查室902的上面相對。檢查室902的上面側的檢查區塊901內設有未圖示的感測器，發光面Wa發光而接收其光進行波長、光度等光學特性的檢查。檢查結束時，如第42圖表示探針903a及903b開始朝箭頭E的方向退出，而從工件W的電極Wc1及Wc2分開。並且，更經過一時間時，如第43圖表示探針903a及903b恢復回原來位置後停止。在此狀態下，進行轉換閥907轉換連接於壓縮空氣源909，並進行轉換閥911的轉換後連接於真空源908。藉著轉換，對檢查室902內供應壓縮空氣，來真空吸引工件收納孔400，因此工件W從檢查室902向著工件收納孔400開始朝箭頭F的方向移動。
    由此狀態更經過一時間時，如第44圖表示工件W抵接於工件收納孔400的壁面404後停止，回到工件收納孔400。在此狀態下，將轉換閥907轉換成中立。之後，如第45圖表示搬運台200開始朝著箭頭A的方向旋轉，將工件W朝向分類排出部10搬運。到達分類排出部10的工件W是對應檢查部900實施的光學特性檢查的結果被分類成預先所決定的預定的等級。並且，朝著對應各等級之未圖示的排出箱對工件收納孔400內供應壓縮空氣後排出。
    如以上比較例中的工件搬運檢查裝置X1會有以下的問題。
    即，第46圖是表示比較例的檢查部900的相關動作的時間圖，如第46圖表示「台旋轉/停止」在H級的期間使搬運台200旋轉，L級的期間使搬運台200停止。並且，「取出工件」在H級的期間是如第38圖至第39圖表示，將工件W從工件收納孔400取出至檢查室902。並且，「檢查」在H級的期間如第40圖至第43圖表示將探針903a及903b抵接於工件W的電極Wc1及Wc2實施光學特性檢查之後，使探針9038及903b從工件W的電極Wc1及Wc2分開。又，「放回工件」在H級的期間是如第43圖至第44圖表示將工件W從檢查室902放回到工件收納孔400。
    第46圖中，進行所需時間t7的「取出工件」、所需時間t1的「檢查」、所需時間t8的「放回工件」的3個動作，可得知該等所需時間的總合為搬運台200的停止時間T2。所需時間的一例為t1=130ms、t7=25ms、t8=25ms，T2=t1+t7+t8=180ms。亦即，意味著在「檢查」的所需時間130ms加上「取出工件」與「放回工件」的各所需時間增加為180ms，搬運台200的停止時間T2僅較「檢查」的場合增長180ms/130ms≒1.38，即約38%。這是與實質的檢查時間增長約38%相同。檢查部900中「取出工件」與「放回工件」必要的理由是工件W為側顯示LED，且如第2圖表示和形成有發光面Wa與電極Wc1及Wc2的面Wb形成鄰接。
    側顯示LED所須較多，為生產急速增加的零組件，所以強烈要求檢查時間的縮短，但是表示例表示工件搬運裝置的場合，以上述的數值例而言會增長檢查時間約38%，對於因應檢查時間縮短的要求困難。
    相對於此根據本發明，在檢查中可不中斷檢查步驟連續地進行，可獲得整體之作業效率的提升。
    1‧‧‧台座
    2‧‧‧搬運台
    3‧‧‧中心軸
    4‧‧‧工件收納孔
    4a‧‧‧第1孔
    4b‧‧‧第2孔
    5‧‧‧線性饋送器
    6‧‧‧分離供應部
    7‧‧‧方向判別部
    8‧‧‧轉向部
    9‧‧‧檢查部
    10‧‧‧分類排出部
    11‧‧‧真空源
    12‧‧‧壓縮空氣源
    21‧‧‧台罩
    22‧‧‧防護壁
    71‧‧‧監視窗
    72‧‧‧攝影手段
    82‧‧‧感測器窗
    82a‧‧‧停止溝槽
    83‧‧‧光感測器
    84‧‧‧轉軸
    85‧‧‧吸附口
    92a、92b‧‧‧探針
    W‧‧‧工件
    Wa‧‧‧工件的發光面
    Wb‧‧‧工件的電極面
    第1圖是表示本發明的工件搬運檢查裝置的上視圖。
    第2圖是表示工件的形狀的透視圖。
    第3圖是表示搬運台的工件收納孔的透視圖。
    第4圖是表示線性饋送器內的工件搬運狀態的上視圖。
    第5圖是表示線性饋送器內的工件搬運狀態的側視圖。
    第6圖是表示收納於工件收納孔的第1孔內的工件的透視圖。
    第7圖是表示收納於工件收納孔的第1孔內的工件的透視圖。
    第8圖是表示工件收納孔停止於方向判別部的樣子的側視圖。
    第9(a)(b)圖是表示工件收納孔停止於轉向部的樣子的上視圖。
    第10圖是表示轉軸及吸附口的構造的透視圖。
    第11圖是表示轉軸及吸附口的構造的放大透視圖。
    第12(a)(b)圖是表示工件搬運檢查裝置的轉向部的動作的圖。
    第13(a)(b)圖是表示工件搬運檢查裝置的轉向部的動作的圖。
    第14(a)(b)圖是表示工件搬運檢查裝置的轉向部的動作的圖。
    第15(a)(b)圖是表示工件搬運檢查裝置的轉向部的動作的圖。
    第16(a)(b)圖是表示工件搬運檢查裝置的轉向部的動作的圖。
    第17(a)(b)圖是表示工件搬運檢查裝置的轉向部的動作的圖。
    第18圖是表示工件搬運檢查裝置的轉向部的動作的圖。
    第19(a)(b)圖是表示工件搬運檢查裝置的轉向部的動作的圖。
    第20(a)(b)圖是表示工件搬運檢查裝置的轉向部的動作的圖。
    第21(a)(b)圖是表示工件搬運檢查裝置的轉向部的動作的圖。
    第22圖是表示收納於工件收納孔之第2孔的工件的透視圖。
    第23圖是表示工件搬運檢查裝置之檢查部的構成與動作的圖。
    第24圖是表示工件搬運檢查裝置之檢查部的構成與動作的圖。
    第25圖是表示工件搬運檢查裝置之檢查部的構成與動作的圖。
    第26圖是表示工件搬運檢查裝置之檢查部的構成與動作的圖。
    第27圖是表示工件搬運檢查裝置之檢查部的構成與動作的圖。
    第28圖是表示工件搬運檢查裝置之檢查部的構成與動作的圖。
    第29圖是表示工件搬運檢查裝置之檢查部的構成與動作的圖。
    第30圖是表示工件搬運檢查裝置之轉向部及檢查部的相關動作的時間圖。
    第31圖是根據比較例之工件搬運檢查裝置的上視圖。
    第32圖為比較例的工件收納孔的透視圖。
    第33圖是表示收納於比較例之工件收納孔的工件的透視圖。
    第34圖是表示比較例中線性饋送器內的工件搬運狀態的上視圖。
    第35圖是表示比較例中線性饋送器內的工件搬運狀態的側視圖。
    第36圖是表示比較例的檢查部的構成與動作的圖。
    第37圖是表示比較例的檢查部的構成與動作的圖。
    第38圖是表示比較例的檢查部的構成與動作的圖。
    第39圖是表示比較例的檢查部的構成與動作的圖。
    第40圖是表示比較例的檢查部的構成與動作的圖。
    第41圖是表示比較例的檢查部的構成與動作的圖。
    第42圖是表示比較例的檢查部的構成與動作的圖。
    第43圖是表示比較例的檢查部的構成與動作的圖。
    第44圖是表示比較例的檢查部的構成與動作的圖。
    第45圖是表示比較例的檢查部的構成與動作的圖。
    第46圖是表示比較例的檢查部的相關動作的時間圖。
    1‧‧‧台座
    2‧‧‧搬運台
    2A‧‧‧外緣
    4‧‧‧工件收納孔
    4a‧‧‧第1孔
    4a1‧‧‧壁面
    4a2‧‧‧壁面
    4a3‧‧‧壁面
    4a4‧‧‧連通溝槽
    4b‧‧‧第2孔
    4b1‧‧‧壁面
    4b4‧‧‧連通溝槽
    41A‧‧‧開口部
    41B‧‧‧第2開口部
    A‧‧‧搬運方向
    权利要求:
    Claims (14)
    [1] 一種工件搬運檢查裝置，其特徵為，具備：搬運體，具有收納長方形體形狀的工件的複數工件收納孔，藉間歇移動使工件沿著搬運方向搬運；分離供應手段，設置在搬運體，將工件收納於工件收納孔；轉向手段，設置在搬運體，進行工件收納孔內的工件的轉向；及檢查手段，設置在搬運體，進行工件收納孔內的工件的特性檢查，各工件收納孔具有分別以不同的姿勢收納工件的第1孔與第2孔，構成T字型，第1孔是從搬運體的外緣向內側朝著與搬運方向成正交延伸，以採取和搬運方向正交的姿勢收納工件，第2孔是沿著搬運體的外緣朝著與搬運方向平行地延伸，以採取和搬運方向平行的姿勢收納工件，分離供應手段是將工件收納於第1孔，轉向手段是使得第1孔內的工件朝向搬運體的外方移動，旋轉90°後收納於第2孔，檢查手段是對收納於第2孔的工件中朝著搬運體的外側方向的面進行特性檢查。
    [2] 如申請專利範圍第1項記載的工件搬運檢查裝置，其中，轉向手段具有吸附第1孔內的工件並朝著與搬運體的搬運方向及工件的長方向正交的方向外方移動，使工件旋轉90°並收納於第2孔內的吸附口。
    [3] 如申請專利範圍第2項記載的工件搬運檢查裝置，其中，轉向手段進一步具有將第1孔內的工件朝著工件的長方向外方拉出的噴氣裝置。
    [4] 如申請專利範圍第1項記載的工件搬運檢查裝置，其中，在分離供應手段與轉向手段之間，配置有判別第1孔內的工件方向的方向判別手段。
    [5] 如申請專利範圍第4項記載的工件搬運檢查裝置，其中，轉向手段是根據方向判別手段的判別結果將工件朝著順時鐘方向或逆時鐘方向旋轉90°。
    [6] 如申請專利範圍第1項至第5項中任一項記載的工件搬運檢查裝置，其中，搬運體為圓形的搬運台。
    [7] 如申請專利範圍第1項至第5項中任一項記載的工件搬運檢查裝置，其中，搬運體為環形搬運帶。
    [8] 一種工件搬運檢查方法，係使用申請專利範圍第1項記載的工件搬運檢查裝置，其特徵為，具備：分離供應步驟，藉分離供應手段將工件收納於設置在搬運手段的工件收納孔；搬運步驟，藉搬運體的間歇移動來搬運工件；轉向步驟，藉轉向手段進行工件的轉向；及檢查步驟，藉檢查手段進行工件的特性檢查，分離供應步驟中分離供應手段是將工件收納於第1孔，轉向步驟中轉向手段是使第1孔內的工件朝搬運體的外方移動，旋轉90°後收納於第2孔，檢查步驟中檢查手段是對收納於第2孔的工件中朝著搬運體的外側方向的面進行特性檢查。
    [9] 如申請專利範圍第8項記載的工件搬運檢查方法，其中，在轉向步驟中，轉向手段具有吸附第1孔內的工件並朝著與搬運體的搬運方向及工件的長方向正交的方向外方移動，使工件旋轉90°並收納於第2孔內的吸附口。
    [10] 如申請專利範圍第9項記載的工件搬運檢查方法，其中，在轉向步驟中，轉向手段藉著噴氣裝置將第1孔內的工件朝著工件的長方向外方拉出。
    [11] 如申請專利範圍第8項記載的工件搬運檢查方法，其中，在分離供應步驟與轉向步驟之間，藉方向判別手段進行判別第1孔內的工件方向的方向判別步驟。
    [12] 如申請專利範圍第11項記載的工件搬運檢查方法，其中，在轉向步驟中，轉向手段是根據方向判別步驟的判別結果將工件朝著順時鐘方向或逆時鐘方向旋轉90°。
    [13] 如申請專利範圍第8項至第12項中任一項記載的工件搬運檢查方法，其中，搬運體為圓形的搬運台。
    [14] 如申請專利範圍第8項至第12項中任一項記載的工件搬運檢查方法，其中，搬運體為環形搬運帶。
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